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특허정보 분석하면 국가경쟁력 보인다
- 송고 2010.09.06 14:12 | 수정 2010.09.06 14:14
- 황세준 기자 (hsj@ebn.co.kr)
KEIT, ‘기술수준 측정시스템’ 특허 출원
국내·외 특허정보를 활용해 국가 기술경쟁력을 측정하는 시스템이 개발됐다.
지식경제부 산하 정부 연구·개발(R&D) 지원사업 전담기관인 한국산업기술평가관리원(KEIT)은 ‘특허지표를 활용한 기술수준 도출 방법 및 이를 위한 시스템’을 특허정보서비스 전문업체인윕스(WIPS)와 공동 개발해 특허를 출원했다고 6일 밝혔다.
이번에 KEIT가 특허 출원한 시스템은 한국, 미국, 일본, 유럽, 중국 등 세계 주요국의 특허정보를 ‘AIMS+(patent Activity, Intensity, Market-power, Strength, and Strike index)’란 평가 틀로 분석, 그 결과에 근거해 세부 기술별 국가 경쟁력을 산출할 수 있도록 한 것이다.
‘AIMS+’는 특허경쟁력 평가를 위해 KEIT가 자체 개발한 모델로, ▲특허활동지수(PAI; Patent Activity Index) ▲특허집중지수(PII; Patent Intensity Index) ▲특허시장력지수(PMI; Patent Market-power Index) ▲특허경쟁력지수(PSI; Patent Strength Index) ▲특허영향력지수(PSI; Patent Strike Index) 등을 기술수준 측정에 활용한다.
이 시스템을 적용할 경우 전문가의 정성적 평가에 의존한 직관적 설문조사 방식으로 통상 이뤄져왔던 종전 대다수 기술수준조사에서와 달리, 정량적인 특허정보를 기반으로 한 과학적이고 체계적인 기술경쟁력 분석이 가능하다는 게 KEIT 측 설명이다.
KEIT는 10월 말까지 이 시스템으로 반도체와 모바일, IT융합 등 ‘14대 기술 분야’의 각국 경쟁력을 분석해 결과를 발표할 계획이다.
조일구 KEIT 정보통신기획팀장은 “이번 분석 결과가 세계 기술경쟁력 지도상 한국의 좌표를 점검하고 향후 R&D 투자 방향과 전략을 설정 나침반 역할을 할 수 있을 것”이라며 “국내 유관기관 및 전문가들에게 적극 공개할 예정‘이라고 밝혔다.
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